دوره 27، شماره 3 - ( 7-1398 )                   جلد 27 شماره 3 صفحات 747-752 | برگشت به فهرست نسخه ها

XML English Abstract Print


Download citation:
BibTeX | RIS | EndNote | Medlars | ProCite | Reference Manager | RefWorks
Send citation to:

Pakniyat, Motevalizadeh, Jami. The effect of Ga-doping on the structural and optical properties of ZnO thin films prepared by spray pyrolysis. www.ijcm.ir. 2019; 27 (3) :747-752
URL: http://ijcm.ir/article-1-1340-fa.html
پاک نیت سمانه، متولی زاده لیلی، جامی صفا. بررسی اثر ناخالصی گالیم بر ویژگی‌های ساختاری، ریزساختاری و نوری لایه‌های نازک اکسید روی تهیه شده به روش افشانه گرمایی. مجله بلورشناسی و کانی شناسی ایران. 1398; 27 (3) :747-752

URL: http://ijcm.ir/article-1-1340-fa.html


دانشگاه آزاد اسلامی
چکیده:   (66 مشاهده)
در این پژوهش لایه­های نازک اکسید روی با ناخالصی گالیم به روش اسپری پایرولیزیز تهیه و اثر ناخالصی گالیم بر ویژگی­های ساختاری و اپتیکی آنها بررسی شد. لایه­های ZnO خالص و ZnO:Ga با ناخالصی گالیم از 1 تا 5 درصد در دمای بستر 350 درجه سانتی­گراد تهیه شدند. نتایج پراش پرتوی X نشان می­دهد که لایه­های ZnO دارای ساختار بلوری ورتسایت با راستای ارجح (002) هستند و با افزایش مقدار ناخالصی، متوسط اندازه­ی بلورک­ها از 1/39 تا 1/16 نانومتر تغییر می­کند. ویژگی­های نوری همه نمونه­ها از جمله طیف­های عبوری و جذبی با استفاده از طیف­سنج مرئی-فرابنفش (UV-Vis) بررسی شد که برپایه این داده­ها، مقادیر گاف انرژی تعیین شد. نتایج نشان می­دهد که عبور لایه­ها در ناحیه مرئی بیش از 90% است. و گاف انرژی از eV 29/3 در نمونه خالص، با افزایش ناخالصی گالیم تا 5 درصد، به eV 38/3 افزایش می­یابد.     
متن کامل [PDF 721 kb]   (18 دریافت)    
نوع مطالعه: پژوهشي | موضوع مقاله: تخصصي
دریافت: ۱۳۹۸/۷/۱۳ | پذیرش: ۱۳۹۸/۷/۱۳ | انتشار: ۱۳۹۸/۷/۱۳

ارسال نظر درباره این مقاله : نام کاربری یا پست الکترونیک شما:
CAPTCHA

کلیه حقوق این وب سایت متعلق به مجله بلورشناسی و کانی شناسی ایران می باشد.

طراحی و برنامه نویسی : یکتاوب افزار شرق

© 2019 All Rights Reserved | Iranian Journal of Crystallography and Mineralogy

Designed & Developed by : Yektaweb