جستجو در مقالات منتشر شده


۳ نتیجه برای سلیمانی

آقای عبدالعلی عالمی، آقای اسماعیل سلیمانی،
دوره ۸، شماره ۲ - ( ۷-۱۳۷۹ )
چکیده

در این پژوهش پلی هالوژن کالکوژن SeCl۲ICl تهیه و ساختار آن به روش پراش سنجی تک بلور پرتو ایکس تعیین شد. این ترکیب در گستره دمایی ۷۰ تا ۱۵۰ درجه سانتیگراد به شکل بلورهای قرمز یاقوتی در سیستم تک میل با گروه فضایی ...


آقای صابر فرجامی‌شایسته، آقای محمد علی سلیمانی،
دوره ۱۰، شماره ۲ - ( ۷-۱۳۸۱ )
چکیده

لایه‌های فروالکتریک را با استفاده از مدل آیزینگ در یک میدان عرضی، با تقریب میدان میانگین، مورد بررسی قرار دادیم. یک فیلم N لایه‌ای با تقارن مکعبی ساده را در نظر بگیرید که با نزدیکترین همسایه خود برهم‌کنش دارد. فرض می‌کنیم که قدرت تبادل شبه اسپینها و میدان عرضی لایه‌های سطحی آن نسبت به لایه‌های کپه‌ای متفاوت باشد. با این مدل می‌توان روابط مناسبی برای گرمای ویژه و پذیرفتاری الکتریکی به دست آورد. در این لایه‌ها، دمای کوری لایه نسبت به دمای کوری کپه می‌تواند به هر مقدار بالاتر یا پایینتر انتقال یابد.

اگر قدرت تبادلی سطح به اندازه کافی بزرگ باشد،  حتی وقتی که مقدار میدان عرضی به بزرگتر از حالت بحرانی برسد هنوز گذار فاز به حالت فروالکتریک صورت می‌گیرد. قله کپه‌ای گرمای ویژه در دمای کوری لایه ناپیوسته است. اگر قدرت تبادلی سطح از مقدار بحرانی بزرگتر شود، یک منحنی در دمای کوری کپه مشاهده می‌شود. چنانکه در مورد پذیرفتاری کپه داریم پذیرفتاری لایه نیز در دمای کوری واگرا خواهد شد، ولی با واگرایی کمتر.  از طرف دیگر اگر قدرت تبادلی سطح به مقدار بحرانی افزایش یابد قله خمیده‌ای در دمای کوری کپه به وجود می‌آید. هنگامی‌که ضخامت لایه کوچک یا تعداد لایه‌های سطحی بزرگتر شود، مشخصات کپه‌ای گرمای ویژه و پذیرفتاری الکتریکی ضعیفتر و مشخصات سطحی محسوستر خواهند شد.


خانم نگین معنوی زاده، آقای محمد هادی ملکی، آقای علیرضا خدایاری، آقای ابراهیم اصل سلیمانی،
دوره ۱۶، شماره ۱ - ( ۱-۱۳۸۷ )
چکیده

لایه­های نازک اکسید ایندیم آلاییده به قلع ITO) ( با ضخامتهای مختلف nm۶۲۰-۱۳۰ بر زیرلایه­های شیشه نازک به شیوه کندوپاش RF و با استفاده از هدف سرامیکی ITO ( wt. In۲O۳۹۰% و  wt. SnO۲۱۰%) لایه نشانی و سپس در محیط خلأ گرمادهی شد­ند. سرشتیهای الکتریکی و اپتیکی نمونه­های ITO، پیش و پس از گرمادهی در دماهای مختلف به وسیله یک سیستم اندازه­گیری مقاومت چارسوزنی و طیف سنج UV/VIS/IR بررسی و مقایسه شدند. ساختار بلوری لایه­های گرمادهی شده در دمای بهینه C˚۴۰۰ با آنالیز پراش پرتو ایکس XRD  مورد مطالعه قرار گرفت. از آنالیز SEM نیز برای بررسی ساختار سطحی لایه بهینه بهره گرفته شد. بررسی نتایج حاصل از آنالیزها نشان می­دهد که با افزایش ضخامت لایه­ها و تغییر ساختار بلوری، سرشتیهای الکتریکی و اپتیکی ماده، نظیر مقاومت سطحی، مقاومت ویژه، و شفافیت لایه­ها تغییر می­کند، به طوریکه لایه nm ۱۳۰ با ضخامت کمتر در دمای C˚۴۰۰، دارای شفافیت ۷۱/۸۳%، و مقاومت ویژه mcΩ ۴- ۱۰ × ۳۴/۲ است. لایه nm۶۲۰ با شفافیت ۰۷/۷۹%، در C˚۴۰۰ کمترین مقاومت ویژه mcΩ ۴-۱۰ × ۱   را نشان می­دهد که می­توان آن را به عنوان لایه بهینه ضخیم با مقاومت سطحی /Ω ۶/۱ برای کاربردهای مختلف معرفی کرد.



صفحه ۱ از ۱     

کلیه حقوق این وب سایت متعلق به مجله بلورشناسی و کانی شناسی ایران می باشد.

طراحی و برنامه نویسی : یکتاوب افزار شرق

© 2025 CC BY-NC 4.0 | Iranian Journal of Crystallography and Mineralogy

Designed & Developed by : Yektaweb