در این مقاله، نانوذرات هگزافریت استرانسیوم نوع M (SrFe₁₂O₁₉) به روش سل- ژل احتراقی تهیه شدند. برای به­دست آوردن دمای پخت بهینه، از آنالیز توزین گرمایی (DTA/TG) استفاده شد. براساس نتایج به­دست آمده از این آنالیز، ژل خشک پودری هگزافریت استرانسیوم در دماهای C°750 تا C°1050 و در زمان­های پخت 4 تا 7 ساعت پخت صورت گرفت. خواص ساختاری و ریخت­شناسی نمونه­ها به وسیله­ی طیف پراش پرتو ایکس (XRD)، طیف فروسرخ- تبدیل فوریه (FT- IR) و میکروسکوپ الکترونی روبشی (SEM) بررسی شدند.  همچنین خواص مغناطیسی و دی­الکتریک نمونه­ها، به وسیله­ی مغناطیس ارتعاشی (VSM) و دستگاه LCR متر، در دمای اتاق اندازه­گیری شدند. نتایج حاصل از اندازه­گیری­های مغناطیسی نمونه­ها نشان می­دهد که در پذیرفتاری مغناطیسی هر نمونه، تنها یک قله وجود داشت که با نتایج به دست آمده از الگوی پراش پرتو ایکس نمونه­ها، مبنی بر تک­فاز بودن نمونه­ها همخوانی داشت. همچنین اندازه­گیری­های دی­الکتریکی نمونه­ها نشان می­دهد که با افزایش بسامد، ثابت دی­الکتریک و اتلاف دی­الکتریک نمونه­ها کاهش می­یابد. که این روند کاهش نشان دهنده­ی رفتار طبیعی فریت­هاست. نتایج XRD  نشان داد که نمونه­ی با دما و زمان پخت حدود C°950 و 4 ساعت تک­فاز است. طیف FT- IR نشان داد که وجود قله­های جذبی در گستره­ی  cm^-1580 -560  و  cm^-1470 -430 در همه­ی نمونه­ها، به­ترتیب بیانگر تشکیل خوشه­های چهاروجهی و هشت­وجهی اکسیدهای فلزی در فریت­ها هستند. همچنین اندازه­ی نانوذرات بر اساس تصاویر SEM در حدود 70 نانومتر است.