دوره 25، شماره 3 - ( 6-1396 )
جلد 25 شماره 3 صفحات 634-629 |
برگشت به فهرست نسخه ها
1- دانشگاه بیرجند
2- دانشگاه بیرجند
3- دانشگاه صنعتی بیرجند
2- دانشگاه بیرجند
3- دانشگاه صنعتی بیرجند
چکیده: (4717 مشاهده)
ویژگیهای ساختاری، ریختشناسی و مغناطیسی لایههای نازک Co0/5Zn0/5Fe2O4 به روش تحلیل پراش پرتوX ، میکروسکوپ الکترونی روبشی گسیل میدانی(FE-SEM) و مغناطیسسنج نمونهی نوسانی(VSM) بررسی شد. لایههای نازک به روش افشانه آتشکافت (پایرولیز) لایهنشانی، سپس در دماهای °C500 و °C600 تکلیس شدند. نتایج پراش پرتو X نشان داد که نمونههای تکلیس شده، تک فازند و اندازه بلورک و ثابت شبکه، با افزایش دمای تکلیس زیاد میشود. تصاویر FE-SEM از سطح نمونههای تکلیس شده، توزیع همگنی از ذرات را نشان میدهد. اندازهی ذرات بدست آمده نمونههای تکلیس شده در دمای °C 500 و °C 600 به ترتیب حدوداً nm20 وnm 35 است. اندازهگیریهای مغناطیسی در دمای اتاق برای دو حالت موازی و عمود بر سطح لایه نازک نشان میدهد که با افزایش دمای تکلیس مغناطش و وادارندگی لایهها افزایش مییابد که این میتواند به دلیل مهاجرت یونهای غیرمغناطیسی Zn2+ از جایگاه هشتوجهی به چاروجهی باشد.
| بازنشر اطلاعات | |
 |
این مقاله تحت شرایط Creative Commons Attribution-NonCommercial 4.0 International License قابل بازنشر است. |