لایههای نازک سولفید کادمیوم به روش تبخیر در خلأ تهیه شد. اثر باز پخت در مجاورت هوا و در دماهای oC100، oC200 و oC 300 بررسی و با لایههای بدون باز پخت مقایسه گردید. با استفاده از پراش پرتو ایکس (XRD) برای آنالیز ساختار شبکه لایهها، معلوم شد که ساختار لایهها شش گوشی با جهت رشد (002) بوده و بیشترین بینظمی آن در دمای باز پخت بالاتر از oC 200 رخ داده است.
بازنشر اطلاعات | |
این مقاله تحت شرایط Creative Commons Attribution-NonCommercial 4.0 International License قابل بازنشر است. |