لایههای نازکZn0.97TM0.03O (TM = Co, Fe) روی زیر لایههای شیشهای با روش سل-ژل رشد داده شدند و اثرات جاینشانی فلزات واسطه بر روی خواص ساختاری و اپتیکی لایههای ZnO مورد بررسی قرار گرفت. طیفهای حاصل از پراش پرتو X از نمونهها نشان داد که تمام لایهها دارای ساختار ورتسایت میباشند. طیف تراگسیل نوری در بازه طول موجی 200-800 نانو متر برای نمونهها ثبت گردید و با استفاده از آن گاف نواری لایهها محاسبه گردید. لبه جذب لایهها بسته به نوع عناصر جاینشانی شده، یک جابجایی کوچک را نشان داد. ثابتهای نوری لایهها با استفاده از روش کمینه سازی غیر مقید نقاط محاسبه گردید.
بازنشر اطلاعات | |
این مقاله تحت شرایط Creative Commons Attribution-NonCommercial 4.0 International License قابل بازنشر است. |