در این پژوهش، لایههای نازک گارنت ایتریم آهن جانشانی شده با سریم، با فرمول عمومی CexY3-xFe5O12 و با مقادیر (7/0و5/0و3/0و1/0و0x=)، به روش سل- ژل و پوشش چرخشی (spin coating) و عملیات گرمادهی بر بسترهای کوارتز تهیه شد. نمونههای تهیه شده، برای بررسی ویژگیهای فیزیکی، مورد بررسی قرار گرفتند، اثر ناخالصی Ce بر خواص ساختاری، ریختشناسی سطح فیلم و ویژگیهای مغناطیسی بهترتیب با آنالیز پراش پرتو ایکس (XRD)، میکروسکوپ نیروی اتمی (AFM) و مغناطش سنج ارتعاشی (VSM) مورد بررسی قرار گرفت. تصویر میکروسکوپ نیروی اتمی(AFM) نمونههای تهیه شده نشان میدهد که لایههای نازک دارای سطح پیوسته و هموار هستند.
بازنشر اطلاعات | |
![]() |
این مقاله تحت شرایط Creative Commons Attribution-NonCommercial 4.0 International License قابل بازنشر است. |