دوره 27، شماره 2 - ( 4-1398 )                   جلد 27 شماره 2 صفحات 487-494 | برگشت به فهرست نسخه ها

XML English Abstract Print


Download citation:
BibTeX | RIS | EndNote | Medlars | ProCite | Reference Manager | RefWorks
Send citation to:

Mahmoudi T, Masoudi M. An experimental and theoretical study on the physical properties of Al doped ZnO thin films. www.ijcm.ir. 2019; 27 (2) :487-494
URL: http://ijcm.ir/article-1-1282-fa.html
محمودی طاهره، منصوری مسعود. بررسی تجربی و نظری ویژگی‌های لایه‌های نازک اکسید روی آلاییده شده با آلومینیم. مجله بلورشناسی و کانی شناسی ایران. 1398; 27 (2) :487-494

URL: http://ijcm.ir/article-1-1282-fa.html


دانشگاه آزاد اسلامی
چکیده:   (38 مشاهده)
در این پژوهش، لایه­های نازک اکسید روی با ناخالصی آلومینیم به روش افشانه گرمایی بر زیرلایه­های شیشه­ای نشانده شدند. نخست ساختار بلوری لایه­ها با استفاده از پراش پرتو ایکس بررسی شد و سپس ویژگی­های نوری آنها با استفاده از طیف عبوری بررسی گردید. افزون بر این، به منظور شناخت اثر ناخالصی آلومینیم بر ساختار الکترونی اکسید روی، ساختار نواری هر دو ماده اکسید روی و اکسید روی آلاییده با آلومینیم با استفاده از محاسبات ابتدا به ساکن در چارچوب نظریه تابعی چگالی محاسبه شد. نتایج بررسی­ها نشانگر آن است که لایه­ها باساختار ششگوشی ورتسایت به صورت بسبلور رشد کرده­اند و اندازه بلورک­ها در راستای (002) برابر با 41/25  نانومتر و میزان گذردهی در ناحیه مرئی بیش از 80 درصد است. همچنین انتقال انرژی فرمی به داخل نوار رسانش نشان می­دهد که آلومینیم در افزایش رسانش الکتریکی و تغییر آستانه گذردهی نوری لایه­ها بسیار موثر است.     
متن کامل [PDF 929 kb]   (16 دریافت)    
نوع مطالعه: پژوهشي | موضوع مقاله: تخصصي
دریافت: ۱۳۹۸/۳/۱۲ | پذیرش: ۱۳۹۸/۳/۱۲ | انتشار: ۱۳۹۸/۳/۱۲

ارسال نظر درباره این مقاله : نام کاربری یا پست الکترونیک شما:
CAPTCHA code

کلیه حقوق این وب سایت متعلق به مجله بلورشناسی و کانی شناسی ایران می باشد.

طراحی و برنامه نویسی : یکتاوب افزار شرق

© 2019 All Rights Reserved | Iranian Journal of Crystallography and Mineralogy

Designed & Developed by : Yektaweb